Export byl úspěšný — 

Studium epitaxních vrstev pomocí rtg metod

V této diplomové práci jsme se zabývali studiem epitaxních vrstev pomocí rentgenové analýzy. Studovali jsme vzorky s ternárními vrstvami GaAsSb, které je možné použít jako krycí vrstvy pro systémy kvantových teček. Vrstvy byly vyrobeny na (100) GaAs substrátu. Použili jsme kinematickou teorii rentge...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Bednář, Michal (Autor práce)
Další autoři: Caha, Ondřej, 1979- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2014
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/357967/prif_m/
Obálka
LEADER 04553ctm a22007937a 4500
001 MUB01001001581
003 CZ BrMU
005 20201201131844.0
008 140628s2014 xr ||||| |||||||||||cze d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2021-02-08 
035 |a (ISMU-VSKP)238897 
040 |a BOD114  |b cze  |d BOD004 
072 7 |a 539  |x Fyzikální stavba hmoty. Jaderná fyzika. Molekulární fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 539.186  |2 MRF 
100 1 |a Bednář, Michal  |% UČO 357967  |* [absolvent PřírF MU]  |4 dis 
242 1 0 |a Study of epitaxial layers using x-ray techniques  |y eng 
245 1 0 |a Studium epitaxních vrstev pomocí rtg metod  |h [rukopis] /  |c Michal Bednář 
260 |c 2014 
300 |a 52 l. 
500 |a Vedoucí práce: Ondřej Caha 
502 |a Diplomová práce (Mgr.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2014 
520 2 |a V této diplomové práci jsme se zabývali studiem epitaxních vrstev pomocí rentgenové analýzy. Studovali jsme vzorky s ternárními vrstvami GaAsSb, které je možné použít jako krycí vrstvy pro systémy kvantových teček. Vrstvy byly vyrobeny na (100) GaAs substrátu. Použili jsme kinematickou teorii rentgenové difrakce k popisu rozložení koncentrace antimonu ve vrstvách GaAsSb. Stejnou teorii jsme využili k analýze strukturních vlastností epitaxních vrstev topologických izolátorů Bi₂Se₃ a BiₓTey [y=dolní index] na BaF₂ (111) substrátu. Na těchto vzorcích s vrstvami topologických izolátorů jsme měřili mřížové parametry a stanovili jsme fáze vrstev.  |% cze 
520 2 9 |a In this thesis we studied epitaxial layers using X-ray analysis. We analyzed samples with ternary GaAsSb layers, which can be used as a cover layers for systems of quantum dots. The layers were grown on GaAs (100) substrate. We used kinematical theory of X-ray diffraction to describe distribution of antimony concentration in the GaAsSb layer. We used the same theory to analyze structural properties of epitaxial layers of topological insulators Bi₂Se₃ and BiₓTey [y=subscript] on BaF₂ (111) substrate. We measured lattice parameters and we determined phase of the layers on these samples.  |9 eng 
650 0 7 |a epitaxe  |7 ph1086055  |2 czenas 
650 0 7 |a kvantové tečky  |7 ph615513  |2 czenas 
650 0 7 |a rentgenová difrakce  |2 CZ-BrMU 
650 0 7 |a topologie  |7 ph116463  |2 czenas 
650 0 9 |a epitaxy  |2 eczenas 
650 0 9 |a quantum dots  |2 eczenas 
650 0 9 |a topology  |2 eczenas 
650 0 9 |a X-ray diffraction  |2 eCZ-BrMU 
655 7 |a diplomové práce  |7 fd132022  |2 czenas 
655 9 |a master's theses  |2 eczenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika kondenzovaných látek  |c PřF N-FY KOND (KOND)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Caha, Ondřej,  |d 1979-  |7 mub2011649618  |% UČO 4414  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Ústav fyziky kondenzovaných látek  |7 mub20211110271  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/357967/prif_m/ 
CAT |c 20140628  |l MUB01  |h 0421 
CAT |a RACLAVSKA  |b 02  |c 20140711  |l MUB01  |h 1029 
CAT |c 20140911  |l MUB01  |h 1614 
CAT |c 20140912  |l MUB01  |h 1109 
CAT |a RACLAVSKA  |b 02  |c 20141114  |l MUB01  |h 1538 
CAT |a RACLAVSKA  |b 02  |c 20141114  |l MUB01  |h 1616 
CAT |c 20150703  |l MUB01  |h 1242 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1452 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1413 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151226  |l MUB01  |h 0504 
CAT |a SIMCIKOVAX  |b 02  |c 20160822  |l MUB01  |h 1353 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20161106  |l MUB01  |h 2316 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190108  |l MUB01  |h 0005 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20200323  |l MUB01  |h 2345 
CAT |a VACOVAX  |b 02  |c 20201008  |l MUB01  |h 0945 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20201102  |l MUB01  |h 0036 
CAT |a REPISOVA  |b 02  |c 20201201  |l MUB01  |h 1318 
CAT |c 20210208  |l MUB01  |h 1138 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20210224  |l MUB01  |h 2247 
CAT |a DRIMLOVAX  |b 02  |c 20210413  |l MUB01  |h 0912 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1010 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1958 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1230 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20221017  |l MUB01  |h 0015 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20230808  |l MUB01  |h 2146 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20231216  |l MUB01  |h 0107 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20240313  |l MUB01  |h 2357 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20240707  |l MUB01  |h 2135 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2021-02-08 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m VYSPR  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRVFY  |b ÚK volný výběr - F  |3 K-F-2014-BEDN  |5 3145361207  |8 20140711  |f 70  |f Prezenční  |q 20180809  |r 20140606  |s dar 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK volný výběr - F  |d K-F-2014-BEDN  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRVFY