Strukturní vlastnosti epitaxních Ge mikrokrystalů na Si

Předložená práce se zabývá studiem struktury epitaxních Ge mikrokrystalů, které se připravují depozicí na Si substrátu obsahujícím pravidelnou síť litograficky vytvořených sloupečků. Krystalová kvalita Ge mikrokrystalů byla studována pomocí rentgenové difrakce metodou mapování reciprokého prostoru....

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Rozbořil, Jakub, 1990- (Autor práce)
Další autoři: Meduňa, Mojmír, 1974- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2014
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/357604/prif_m/
Obálka
LEADER 04840ctm a22007697a 4500
001 MUB01001001579
003 CZ BrMU
005 20201008163728.0
008 140628s2014 xr ||||| |||||||||||cze d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2021-02-08 
035 |a (ISMU-VSKP)238816 
040 |a BOD114  |b cze  |d BOD004 
072 7 |a 539  |x Fyzikální stavba hmoty. Jaderná fyzika. Molekulární fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 681.7.063  |2 MRF 
080 |a 548.1/.2  |2 MRF 
100 1 |a Rozbořil, Jakub,  |d 1990-  |7 mub2015895104  |% UČO 357604  |4 dis 
242 1 0 |a Structural properties of Ge microcrystals on Si  |y eng 
245 1 0 |a Strukturní vlastnosti epitaxních Ge mikrokrystalů na Si  |h [rukopis] /  |c Jakub Rozbořil 
260 |c 2014 
300 |a 64 l. 
500 |a Vedoucí práce: Mojmír Meduňa 
502 |a Diplomová práce (Mgr.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2014 
520 2 |a Předložená práce se zabývá studiem struktury epitaxních Ge mikrokrystalů, které se připravují depozicí na Si substrátu obsahujícím pravidelnou síť litograficky vytvořených sloupečků. Krystalová kvalita Ge mikrokrystalů byla studována pomocí rentgenové difrakce metodou mapování reciprokého prostoru. Rozměry a tvary Ge mikrokrystalů byly analyzovány na základě snímků ze skenovacího elektronového mikroskopu. Proměřeno bylo celkem 24 vzorků s různou geometrií Ge mikrokrystalů, u kterých byl stanoven mřížový parametr v laterálním a vertikálním směru, složky tenzoru deformace a stupeň relaxace. Provedena byla také analýza pološířky difrakčních píků v závislosti na plošném pokrytí Ge mikrokrystaly, která je v práci podrobně diskutována a srovnána s výsledky z jiných publikací.  |% cze 
520 2 9 |a This thesis deals with a study of structure of epitaxial Ge microcrystals, which are produced by deposition on Si substrate containing a regular net of lithographically formed pillars. Crystal structure of Ge microcrystals was studied by x-ray diffraction method called reciprocal space mapping. Sizes and shapes of Ge microcrystals were analyzed using scanning electron microscope micrographs. Series of 24 samples of Ge microcrystals with different geometry was mesured, where their lateral and vertical lattice parameter, components of the strain tensor and the degree of relaxation were determined. We have also performed analysis of diffraction peaks full width at half maximum depending on the coverage of Ge microcrystals. The analysis was discussed and compared in details with other publications.  |9 eng 
650 0 7 |a epitaxe  |7 ph1086055  |2 czenas 
650 0 7 |a krystaly  |7 ph121980  |2 czenas 
650 0 7 |a optické difrakční mřížky  |7 ph301316  |2 czenas 
650 0 7 |a RTG difraktní analýza  |2 CZ-BrMU 
650 0 9 |a crystals  |2 eczenas 
650 0 9 |a epitaxy  |2 eczenas 
650 0 9 |a optical diffraction gratings  |2 eczenas 
650 0 9 |a X-ray diffractometry  |2 eczenas 
655 7 |a diplomové práce  |7 fd132022  |2 czenas 
655 9 |a master's theses  |2 eczenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika kondenzovaných látek  |c PřF N-FY KOND (KOND)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Meduňa, Mojmír,  |d 1974-  |7 mub2011623557  |% UČO 7898  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Ústav fyziky kondenzovaných látek  |7 mub20211110271  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/357604/prif_m/ 
CAT |c 20140628  |l MUB01  |h 0421 
CAT |a RACLAVSKA  |b 02  |c 20140710  |l MUB01  |h 1536 
CAT |c 20140911  |l MUB01  |h 1614 
CAT |c 20140912  |l MUB01  |h 1109 
CAT |a RACLAVSKA  |b 02  |c 20141030  |l MUB01  |h 1119 
CAT |c 20150703  |l MUB01  |h 1242 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1452 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1413 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20151203  |l MUB01  |h 1018 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151226  |l MUB01  |h 0504 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190108  |l MUB01  |h 0005 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20200323  |l MUB01  |h 2345 
CAT |a REPISOVA  |b 02  |c 20201008  |l MUB01  |h 1637 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20201102  |l MUB01  |h 0036 
CAT |c 20210208  |l MUB01  |h 1138 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20210224  |l MUB01  |h 2247 
CAT |a DRIMLOVAX  |b 02  |c 20210413  |l MUB01  |h 0912 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1010 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1958 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1230 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20221017  |l MUB01  |h 0015 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20230808  |l MUB01  |h 2146 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20231216  |l MUB01  |h 0107 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20240313  |l MUB01  |h 2357 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20240707  |l MUB01  |h 2135 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2021-02-08 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m VYSPR  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRVFY  |b ÚK volný výběr - F  |3 K-F-2014-ROZB  |5 3145361206  |8 20140710  |f 70  |f Prezenční  |q 20180809  |r 20140606  |s dar 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK volný výběr - F  |d K-F-2014-ROZB  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRVFY