Optical characterisation of non-uniform thin films

Studuje se vliv plošné neuniformity tenkých vrstev na jejich optickou charakterizaci se zaměřením na neuniformitu v tloušťce. Jsou navrženy vhodné modely a parameterizace pro zahrnutí tohoto defektu do výpočtu optických veličin. Jejich použitelnost je ověřena jak numerickými studiemi, tak charakteri...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Nečas, David, 1976- (Autor práce)
Další autoři: Ohlídal, Ivan, 1945- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Angličtina
Vydáno: 2013
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/19972/prif_d/
Obálka
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
Popis Stav Knihovna Sbírka Signatura Poznámky Čárový kód
Dostupné
Prezenční SKLAD
Přírodovědecká fakulta ÚK sklad - F K-12834 3145359818