Přímé zobrazení vnitřního napětí v krystalu pomocí pomalých elektronů
V dnešní době existuje celá řada technik pro analýzu mikrostruktury materiálů. Mezi nejpoužívanější patří rastrovací elektronová mikroskopie, rastrovací prozařovací mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie iontovým svazkem. V porovnání s uvedenými metodami je mikroskopie pomalým...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2012
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/106190/prif_m/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - F | K-12747 | 3145355466 |