Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Voigtländer, Bert (Autor)
Typ dokumentu: Kniha
Jazyk:Angličtina
Vydáno: Heidelberg : Springer-Verlag, 2015
Edice:Nanoscience and technology,
Témata:

Knihovny MUNI nemají přístupné knihovní jednotky.