Přímé zobrazení vnitřního napětí v krystalu pomocí pomalých elektronů
V dnešní době existuje celá řada technik pro analýzu mikrostruktury materiálů. Mezi nejpoužívanější patří rastrovací elektronová mikroskopie, rastrovací prozařovací mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie iontovým svazkem. V porovnání s uvedenými metodami je mikroskopie pomalým...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2012
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/106190/prif_m/ |
| Shrnutí: | V dnešní době existuje celá řada technik pro analýzu mikrostruktury materiálů. Mezi nejpoužívanější patří rastrovací elektronová mikroskopie, rastrovací prozařovací mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie iontovým svazkem. V porovnání s uvedenými metodami je mikroskopie pomalými elektrony výrazně méně známá, a to i přesto, že je velice účinným nástrojem pro studium mikrostruktury celé řady materiálů. Tato metoda umožňuje získat velký kontrast mezi zrny s různou krystalovou orientací, a to díky detekci elektronů odražených pod velkým úhlem od optické osy, což je ve „standardním“ rastrovacím elektronovém mikroskopu nemožné. Mikroskopie pomalými elektrony je mimořádně citlivá na jemné změny v krystalové orientaci (dvojčata, subzrna), které souvisí s projevy napětí a umožňuje nám tak sledovat napětí v materiálu s vysokou citlivostí a dobrým prostorovým rozlišením. Tato metoda je velice slibná pro celu řadu praktických aplikací. Various techniques are available for analysis of materials microstructure, with the scanning electron microscopy, scanning transmission electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam microscopy being perhaps the most known. The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is less known as yet but already has proved itself very powerful tool for materials research. By means of very slow electrons reflected from the sample and effectively detected in their full angular distribution the structure is imaged at high spatial resolution and high contrast is obtained between differently oriented grains in polycrystals. Because of the high sensitivity of the image signal to the inner potential distribution in the sample even details like subgrains or twins as well as strain at the microstructural level can be visualized. The method promises broad practical applications in the field of modern materials. |
|---|---|
| Popis jednotky: | Vedoucí práce: Luděk Frank |
| Fyzický popis: | 57 l. |