Optická charakterizace sloupcových tenkých vrstev

Dielektrické tenké vrstvy (tvořené oxidy kovů, sulfidy,...), které byly vytvořeny např. reaktivním napařováním, vykazují často sloupcovou strukturu. Přitom velikost a uspořádání sloupců vrstvy je závislé na depoziční teplotě. Mezi sloupci, pevnou částí vrstvy, se mohou nacházet prostory-póry, které...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Šamořil, Tomáš (Autor práce)
Další autoři: Ohlídal, Ivan, 1945- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2008.
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/106076/prif_m/
Obálka
LEADER 05114ctm a22009257a 4500
001 MUB01000553269
003 CZ BrMU
005 20080703143242.0
008 080621s2008 xr ||||| |||||||||||cze d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2017-06-28 
035 |a (ISMU-VSKP)134734 
040 |a BOD114  |b cze  |d BOD004 
041 0 |a cze  |b eng 
072 7 |a 53  |x Fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 538.985  |2 MRF 
080 |a 53  |2 MRF 
100 1 |a Šamořil, Tomáš  |% UČO 106076  |* [absolvent PřírF MU]  |4 dis 
242 1 0 |a Optical characterization of columnar thin films  |y eng 
245 1 0 |a Optická charakterizace sloupcových tenkých vrstev  |h [rukopis] /  |c Tomáš Šamořil. 
260 |c 2008. 
300 |a 64 l. :  |b il. 
500 |a Vedoucí práce: Ivan Ohlídal. 
502 |a Diplomová práce (Mgr.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2008. 
520 2 |a Dielektrické tenké vrstvy (tvořené oxidy kovů, sulfidy,...), které byly vytvořeny např. reaktivním napařováním, vykazují často sloupcovou strukturu. Přitom velikost a uspořádání sloupců vrstvy je závislé na depoziční teplotě. Mezi sloupci, pevnou částí vrstvy, se mohou nacházet prostory-póry, které jsou za normálních podmínek zaplněny vzduchem, vodou, resp. jinými látkami. Objem těchto prostorů a jejich výplň ovlivňují optické vlastnosti celé vrstvy, jejíž optické konstanty lze studovat pomocí spektrofotometrie a spektroskopické elipsometrie. Tyto optické metody byly použity i v této práci pro studium HfO2 a TiO2 sloupcových vrstev na substrátu z křemíku.  |% cze 
520 2 9 |a The dielectric thin films (formed from the metalic oxids, sulphids,...), which were prepared for example using vacuum reactive evaporation, have often a columnar structure. It is known that the size and the forming of columns of the films is depending on the deposition temperature. Between the columns, the solid part of the film, can be the spaces-pores, which are filled by water, air or another material at the usual conditions. The volume of these spaces and the material inside them influences the optical properties of the whole film, which we can study using the spectrofotometry and spectroscopic ellipsometry. These optical methods was used in this work to study the HfO2 and TiO2 columnar films placed on the Si substrate.  |9 eng 
650 0 7 |a fyzika tenkých vrstev  |7 ph134790  |2 czenas 
650 0 9 |a physics of thin layers  |2 eczenas 
650 0 9 |a thin films  |2 eczenas 
655 7 |a diplomové práce  |7 fd132022  |2 czenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika plazmatu  |c PřF N-FY PLAZ (PLAZ)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Ohlídal, Ivan,  |d 1945-  |7 ola200208057  |% UČO 2397  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Přírodovědecká fakulta.  |b Fyzikální sekce  |7 kn20020321517  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/106076/prif_m/ 
CAT |c 20080621  |l MUB01  |h 0451 
CAT |a DRIMLOVA  |b 02  |c 20080624  |l MUB01  |h 1148 
CAT |a NOVAKOVA  |b 02  |c 20080703  |l MUB01  |h 1432 
CAT |c 20081009  |l MUB01  |h 1440 
CAT |c 20081009  |l MUB01  |h 1535 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091102  |l MUB01  |h 0647 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091103  |l MUB01  |h 0149 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 0213 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 1855 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20091219  |l MUB01  |h 0756 
CAT |c 20100428  |l MUB01  |h 1009 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100501  |l MUB01  |h 1155 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100929  |l MUB01  |h 0331 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 1912 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 2320 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20110907  |l MUB01  |h 1214 
CAT |a batch  |b 00  |c 20120324  |l MUB01  |h 0115 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20120510  |l MUB01  |h 0732 
CAT |c 20120610  |l MUB01  |h 1925 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20120726  |l MUB01  |h 1015 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20130303  |l MUB01  |h 1011 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20130730  |l MUB01  |h 0745 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20131009  |l MUB01  |h 1527 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20131024  |l MUB01  |h 1101 
CAT |c 20140127  |l MUB01  |h 1846 
CAT |c 20150703  |l MUB01  |h 1046 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1442 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1402 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151225  |l MUB01  |h 2335 
CAT |c 20170628  |l MUB01  |h 1108 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20180826  |l MUB01  |h 1453 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20180826  |l MUB01  |h 1504 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190109  |l MUB01  |h 1225 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190129  |l MUB01  |h 0937 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190129  |l MUB01  |h 0940 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190129  |l MUB01  |h 0952 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190227  |l MUB01  |h 0752 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20201030  |l MUB01  |h 0223 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 0932 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1921 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1137 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20210819  |l MUB01  |h 1725 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20230808  |l MUB01  |h 2127 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2017-06-28 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m VYSPR  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRFSK  |b ÚK sklad  |3 K-10681  |5 3145342355  |8 20080624  |f 71  |f Prezenční SKLAD  |q 20180424  |r 20080624  |s dar 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK sklad  |d K-10681  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRFSK