Optická charakterizace sloupcových tenkých vrstev - Šamořil, Tomáš (2008)
Dielektrické tenké vrstvy (tvořené oxidy kovů, sulfidy,...), které byly vytvořeny např. reaktivním napařováním, vykazují často sloupcovou strukturu. Přitom velikost a uspořádání sloupců vrstvy je závislé na depoziční teplotě. Mezi sloupci, pevnou částí vrstvy, se mohou nacházet prostory-póry, které jsou za normálních podmínek zaplněny vzduchem, vodou, resp. jinými látkami. Objem těchto prostorů a jejich výplň ovlivňují optické vlastnosti celé vrstvy, jejíž optické konstanty lze studovat pomocí spektrofotometrie a spektroskopické elipsometrie. Tyto optické metody byly použity i v této práci pro studium HfO2 a TiO2 sloupcových vrstev na substrátu z křemíku.