Výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
Šamořil, Tomáš
'
Přeskočit na obsah
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Filtr e-prezenčka
Autor
Šamořil, Tomáš
Výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
Šamořil, Tomáš
'
, doba hledání: 0,02 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
Optická charakterizace sloupcových tenkých vrstev
Autor
Šamořil
,
Tomáš
Vydáno 2008
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
2
Srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev
Autor
Šamořil
,
Tomáš
Vydáno 2006
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Související témata
Fyzika
fyzika tenkých vrstev
physics of thin layers
thin films
fyzikální měření
physical measurements
spectroscopic ellipsometry
spectroscopy
spektroskopická elipsometrie
spektroskopie
tenké vrstvy
×
Načítá se...
