Optická charakterizace sloupcových tenkých vrstev

Dielektrické tenké vrstvy (tvořené oxidy kovů, sulfidy,...), které byly vytvořeny např. reaktivním napařováním, vykazují často sloupcovou strukturu. Přitom velikost a uspořádání sloupců vrstvy je závislé na depoziční teplotě. Mezi sloupci, pevnou částí vrstvy, se mohou nacházet prostory-póry, které...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Šamořil, Tomáš (Autor práce)
Další autoři: Ohlídal, Ivan, 1945- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2008.
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/106076/prif_m/
Obálka
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
Popis Stav Knihovna Sbírka Signatura Poznámky Čárový kód
Dostupné
Prezenční SKLAD
Přírodovědecká fakulta ÚK sklad K-10681 3145342355