Analýza morfologie horních rozhraní tenkých vrstev GaN pomocí mikroskopie atomové síly

Tato práce se zabývá studiem morfologie horních rozhraní GaN vrstev pomocí AFM mikroskopie. K popisu této morfologie je použito v praxi významných statistických veličin, které charakterizují náhodně drsné povrchy. Určení těchto veličin bylo provedeno různými statistickými metodami, a také vyhodnocen...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Hasoň, Martin (Autor práce)
Další autoři: Ohlídal, Ivan, 1945- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2006.
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/105986/prif_b/
Obálka
LEADER 04569ctm a22009257a 4500
001 MUB01000462813
003 CZ BrMU
005 20071213105524.0
008 060704s2006 xr ||||| |||||||||||cze d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2012-04-10 
035 |a (ISMU-VSKP)104803 
040 |a BOD114  |b cze  |d BOD004 
072 7 |a 53  |x Fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 538.975  |2 MRF 
080 |a 53.086  |2 MRF 
080 |a 539.18  |2 MRF 
080 |a 53  |2 MRF 
100 1 |a Hasoň, Martin  |% UČO 105986  |* [absolvent PřírF MU]  |4 dis 
245 1 0 |a Analýza morfologie horních rozhraní tenkých vrstev GaN pomocí mikroskopie atomové síly  |h [rukopis] /  |c Martin Hasoň. 
260 |c 2006. 
300 |a 44 s. 
500 |a Vedoucí práce: Ivan Ohlídal. 
502 |a Bakalářská práce (Bc.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2006. 
504 |a Bibliografie na s. 43-44. 
520 2 |a Tato práce se zabývá studiem morfologie horních rozhraní GaN vrstev pomocí AFM mikroskopie. K popisu této morfologie je použito v praxi významných statistických veličin, které charakterizují náhodně drsné povrchy. Určení těchto veličin bylo provedeno různými statistickými metodami, a také vyhodnocením z profilů vzorků. Získané údaje byly mezi sebou porovnány. Ukazuje se, že obě metody dávají stejné výsledky. V rámci práce se studoval také vliv AFM hrotu na výslednou kvalitu naměřených dat.  |% cze 
520 2 9 |a This work describes morphology of GaN thin films upper boundaries by the AFM. To description the morphology are used statistics which characterizing randomly rough surfaces. Determination of these statistics is performed in various methods. Evaluation of the statistics is performed from the data profile too. These values are mutually compared. It is shown that the both methods are providing the same values. Within the frame of this work has been studied influence the AFM tip to data quality.  |9 eng 
650 0 7 |a atomová fyzika  |7 ph118658  |2 czenas 
650 0 7 |a fyzika tenkých vrstev  |7 ph134790  |2 czenas 
650 0 7 |a mikroskopie  |7 ph135406  |2 czenas 
650 0 9 |a atomic physics  |2 eczenas 
650 0 9 |a microscopy  |2 eczenas 
650 0 9 |a mikroscopsy  |2 eczenas 
650 0 9 |a physics of thin layers  |2 eczenas 
650 0 9 |a thin films  |2 eczenas 
655 7 |a bakalářské práce  |7 fd132403  |2 czenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika  |c PřF B-FY FYZ (FYZ)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Ohlídal, Ivan,  |d 1945-  |7 ola200208057  |% UČO 2397  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Přírodovědecká fakulta  |7 kn20010709281  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/105986/prif_b/ 
CAT |c 20060704  |l MUB01  |h 0451 
CAT |a VASICEK  |b 02  |c 20060714  |l MUB01  |h 1146 
CAT |a KRATOCHVIL  |b 02  |c 20060725  |l MUB01  |h 0909 
CAT |a KRATOCHVIL  |b 02  |c 20060725  |l MUB01  |h 0909 
CAT |a ZAHR  |b 02  |c 20061206  |l MUB01  |h 1331 
CAT |a ZAHR  |b 02  |c 20061206  |l MUB01  |h 1334 
CAT |c 20070427  |l MUB01  |h 2156 
CAT |c 20071001  |l MUB01  |h 0058 
CAT |c 20071003  |l MUB01  |h 2202 
CAT |a HONIGOVA  |b 02  |c 20071213  |l MUB01  |h 1055 
CAT |c 20080429  |l MUB01  |h 1812 
CAT |c 20080429  |l MUB01  |h 1826 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091102  |l MUB01  |h 0538 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091103  |l MUB01  |h 0101 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 0125 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 1806 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20091219  |l MUB01  |h 0719 
CAT |c 20100428  |l MUB01  |h 0949 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100501  |l MUB01  |h 1103 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100929  |l MUB01  |h 0308 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 1852 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 2302 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20110907  |l MUB01  |h 1214 
CAT |a batch  |b 00  |c 20120324  |l MUB01  |h 0049 
CAT |c 20120410  |l MUB01  |h 1611 
CAT |c 20120610  |l MUB01  |h 1819 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20130303  |l MUB01  |h 0744 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20131009  |l MUB01  |h 1527 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20131024  |l MUB01  |h 1101 
CAT |c 20140127  |l MUB01  |h 1820 
CAT |c 20150702  |l MUB01  |h 1144 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1430 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1351 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151224  |l MUB01  |h 1118 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 0917 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1906 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1113 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2012-04-10 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m BOOK  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRFSK  |b ÚK sklad  |3 K-10573  |5 3145331324  |8 20060714  |f 71  |f Prezenční SKLAD  |q 20180424  |r 20060714 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK sklad  |d K-10573  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRFSK