Analýza morfologie horních rozhraní tenkých vrstev GaN pomocí mikroskopie atomové síly
Tato práce se zabývá studiem morfologie horních rozhraní GaN vrstev pomocí AFM mikroskopie. K popisu této morfologie je použito v praxi významných statistických veličin, které charakterizují náhodně drsné povrchy. Určení těchto veličin bylo provedeno různými statistickými metodami, a také vyhodnocen...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2006.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/105986/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad | K-10573 | 3145331324 |