Výsledky vyhledávání

1

Obálka

Charakterizace tenkých vrstev chalkogenidů pomocí optických metod a AFM

Autor Omasta, Jaroslav
Vydáno 2002

Elektronická verze přístupná pouze pro studenty a pracovníky MU

VŠ práce nebo rukopis

2

Obálka

Srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev

Autor Šamořil, Tomáš
Vydáno 2006

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

3

Obálka

Studium optických funkcí polovodičů pomocí spektroskopické elipsometrie /

Autor Šik, Jan, 1972-
Vydáno 2012

Kniha

4

Obálka

Experimentální studium elektronových vlastností manganátů a elektrony stimulované desorpce /

Autor Kúkoľová, Anna
Vydáno 2017

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

5

Obálka

SPP detektor s organickou vrstvou

Autor Fialová, Martina
Vydáno 2014

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

6

Obálka

Deposition of hydrocarbon thin films in plasma and study of their properties

Autor Valtr, Miroslav, 1979-
Vydáno 2010

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

7

Obálka

Deposition of hydrocarbon thin films in plasma and study of their properties

Autor Valtr, Miroslav, 1979-
Vydáno 2010

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

8

Obálka

Spectroscopic ellipsometry : principles and applications /

Autor Fujiwara, Hiroyuki
Vydáno 2007

Kniha