Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Schmidt, Eduard, 1935- (Author), Lukeš, František, 1931- (Author), Janča, Jan, 1938- (Author), Stejskalová, Vlaďka, 1943- (Author)
Format: Book
Language:Czech
Russian
English
Published: Brno : Přírodovědecká fakulta University J.E. Purkyně v Brně, 1969
Series:Spisy Přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně ; č. 516 (1970/8)
Spisy Přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně. 20
Subjects:
Cover Image
For reservations/loans of the physical document, please log in.
Description Status Library Collection Call Number Notes Barcode
1970, číslo 509-518 Available
In house loan CLOSED STACKS
Faculty of Science ÚK sklad - O Spisy-1970/1-6 konvolut
3145370197