Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , , , |
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: | Čeština Ruština Angličtina |
| Vydáno: |
Brno :
Přírodovědecká fakulta University J.E. Purkyně v Brně,
1969
|
| Edice: | Spisy Přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně ;
č. 516 (1970/8) Spisy Přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně. 20 |
| Témata: |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1970, číslo 509-518 |
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - O | Spisy-1970/1-6 |
konvolut |
3145370197 |