Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements /
Saved in:
| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Czech Russian English |
| Published: |
Brno :
Přírodovědecká fakulta University J.E. Purkyně v Brně,
1969
|
| Series: | Spisy Přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně ;
č. 516 (1970/8) Spisy Přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně. 20 |
| Subjects: |
For reservations/loans of the physical document, please log in.
| Description | Status | Library | Collection | Call Number | Notes | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1970, číslo 509-518 |
Available In house loan CLOSED STACKS |
Faculty of Science | ÚK sklad - O | Spisy-1970/1-6 |
konvolut |
3145370197 |