Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements - Schmidt, Eduard, 1935-2021 (Přírodovědecká fakulta University J.E. Purkyně v Brně, 1969)