Optická diagnostika Si v infračervenom obore

Bakalárska práca sa zaoberá štúdiom optických vlastností kremíku s rôznou úrovňou a typom legovania. Hlavným cieľom tejto práce je namerať transmisné infračervené spektrá sady kremíkových dosiek a stanoviť koncentrácie intersticiálneho kyslíku. Použitím Drudeho modelu voľných elektrónov je prevedená...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Gancarčik, Tomáš (Autor práce)
Další autoři: Humlíček, Josef, 1947- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Slovenština
Vydáno: 2010
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/269705/prif_b/
Obálka
LEADER 04077ctm a22008057a 4500
001 MUB01000646990
003 CZ BrMU
005 20101122093052.0
008 100708s2010 xr ||||| |||||||||||slo d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2019-05-27 
035 |a (ISMU-VSKP)184793 
040 |a BOD114  |b cze  |d BOD004 
072 7 |a 53  |x Fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 538.958  |2 MRF 
080 |a 53  |2 MRF 
100 1 |a Gancarčik, Tomáš  |% UČO 269705  |* [absolvent PřírF MU]  |4 dis 
242 1 0 |a Optical characterisation of Si in infrared range  |y eng 
245 1 0 |a Optická diagnostika Si v infračervenom obore  |h [rukopis] /  |c Tomáš Gancarčik 
246 1 |i Název v IS MU:  |a Optická diagnostika Si v infračerveném oboru 
260 |c 2010 
300 |a 44 l. 
500 |a Vedoucí práce: Josef Humlíček 
502 |a Bakalářská práce (Bc.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2010 
520 2 |a Bakalárska práca sa zaoberá štúdiom optických vlastností kremíku s rôznou úrovňou a typom legovania. Hlavným cieľom tejto práce je namerať transmisné infračervené spektrá sady kremíkových dosiek a stanoviť koncentrácie intersticiálneho kyslíku. Použitím Drudeho modelu voľných elektrónov je prevedená analýza reflexných spektier silne legovaných vzoriek kremíku.  |% cze 
520 2 9 |a The thesis studies the optical properties of silicon with different levels and types of alloying. The main aim of this work is to measure infrared transmission spectra of a set of silicon wafers and to determine the concentrations of interstitial oxygen. Analysis of reflection spectra of highly alloyed silicon is made by using the Drude model of free electrons.  |9 eng 
650 0 7 |a optické vlastnosti materiálů  |7 ph316259  |2 czenas 
650 0 9 |a optical properties of materials  |2 eczenas 
655 7 |a bakalářské práce  |7 fd132403  |2 czenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika  |c PřF B-FY FYZ (FYZ)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Humlíček, Josef,  |d 1947-  |7 mzk2002140262  |% UČO 307  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Přírodovědecká fakulta.  |b Fyzikální sekce  |7 kn20020321517  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/269705/prif_b/ 
CAT |c 20100708  |l MUB01  |h 0451 
CAT |a KRIZOVA  |b 02  |c 20100806  |l MUB01  |h 1058 
CAT |a KRIZOVA  |b 02  |c 20100806  |l MUB01  |h 1310 
CAT |a NOVAKOVA  |b 02  |c 20101122  |l MUB01  |h 0930 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 1920 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 2329 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20110804  |l MUB01  |h 1537 
CAT |a batch  |b 00  |c 20120324  |l MUB01  |h 0140 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20120510  |l MUB01  |h 0733 
CAT |c 20120610  |l MUB01  |h 2010 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20120726  |l MUB01  |h 1016 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20130304  |l MUB01  |h 1113 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20130521  |l MUB01  |h 1502 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20130730  |l MUB01  |h 0745 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20130925  |l MUB01  |h 1614 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20140108  |l MUB01  |h 0816 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1446 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1407 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151226  |l MUB01  |h 0117 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20180826  |l MUB01  |h 1454 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20180826  |l MUB01  |h 1504 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190109  |l MUB01  |h 1226 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190129  |l MUB01  |h 0937 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190129  |l MUB01  |h 0941 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190129  |l MUB01  |h 0952 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20190227  |l MUB01  |h 0752 
CAT |c 20190527  |l MUB01  |h 1025 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20201030  |l MUB01  |h 0223 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 0948 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1937 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1158 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20210819  |l MUB01  |h 1726 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20211230  |l MUB01  |h 0922 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20230808  |l MUB01  |h 2127 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2019-05-27 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m VYSPR  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRSFY  |b ÚK sklad - F  |3 K-12610  |5 3145349062  |8 20100806  |a 2010  |f 71  |f Prezenční SKLAD  |q 20180809  |r 20100806  |s dar 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK sklad - F  |d K-12610  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRSFY