Optická diagnostika Si v infračervenom obore
Bakalárska práca sa zaoberá štúdiom optických vlastností kremíku s rôznou úrovňou a typom legovania. Hlavným cieľom tejto práce je namerať transmisné infračervené spektrá sady kremíkových dosiek a stanoviť koncentrácie intersticiálneho kyslíku. Použitím Drudeho modelu voľných elektrónov je prevedená...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Slovenština |
| Vydáno: |
2010
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/269705/prif_b/ |
| Shrnutí: | Bakalárska práca sa zaoberá štúdiom optických vlastností kremíku s rôznou úrovňou a typom legovania. Hlavným cieľom tejto práce je namerať transmisné infračervené spektrá sady kremíkových dosiek a stanoviť koncentrácie intersticiálneho kyslíku. Použitím Drudeho modelu voľných elektrónov je prevedená analýza reflexných spektier silne legovaných vzoriek kremíku. The thesis studies the optical properties of silicon with different levels and types of alloying. The main aim of this work is to measure infrared transmission spectra of a set of silicon wafers and to determine the concentrations of interstitial oxygen. Analysis of reflection spectra of highly alloyed silicon is made by using the Drude model of free electrons. |
|---|---|
| Popis jednotky: | Vedoucí práce: Josef Humlíček |
| Fyzický popis: | 44 l. |