Studium polovodičových multivrstvev prostřednictvím rtg difrakce
Studium polovodičových multivrstev prostřednictvím rtg difrakce Tato práce obsahuje základní informace o metodě rentgenové difrakce a vlastnostech polovodičových multivrstev. Dále obsahuje postup zpracování naměřené intenzity difraktovaného rtg záření v okolí symetrické a asymetrické rtg difrakce s...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2008.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/151313/prif_b/ |
| LEADER | 05112ctm a22009617a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | MUB01000541136 | ||
| 003 | CZ BrMU | ||
| 005 | 20110208082356.0 | ||
| 008 | 080215s2008 xr ||||| |||||||||||cze d | ||
| STA | |a POSLANO DO SKCR |b 2017-05-09 | ||
| 035 | |a (ISMU-VSKP)130952 | ||
| 040 | |a BOD114 |b cze |d BOD004 | ||
| 072 | 7 | |a 53 |x Fyzika |2 Konspekt |9 6 | |
| 080 | |a 538.975 |2 MRF | ||
| 080 | |a 535.42 |2 MRF | ||
| 080 | |a 53 |2 MRF | ||
| 100 | 1 | |a Halló, Miroslav |% UČO 151313 |4 dis | |
| 245 | 1 | 0 | |a Studium polovodičových multivrstvev prostřednictvím rtg difrakce |h [rukopis] / |c Miroslav Halló. |
| 246 | 1 | 1 | |a Investigation of semiconductor multilayers using x-ray diffraction |
| 260 | |c 2008. | ||
| 300 | |a 41 l. : |b il. | ||
| 500 | |a Vedoucí práce: Mojmír Meduňa. | ||
| 502 | |a Bakalářská práce (Bc.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2008. | ||
| 520 | 2 | |a Studium polovodičových multivrstev prostřednictvím rtg difrakce Tato práce obsahuje základní informace o metodě rentgenové difrakce a vlastnostech polovodičových multivrstev. Dále obsahuje postup zpracování naměřené intenzity difraktovaného rtg záření v okolí symetrické a asymetrické rtg difrakce s vysokým rozlišením na polovodičových multivrstvách. Výsledkem jsou mapy rozložení intenzity difraktovaného rtg záření v okolí symetrické a asymetrické rtg difrakce v reciprokém prostoru a z nich zjištěné parametry periodické multivrstvy, vypěstované v laboratoři ve Villingenu. |% cze | |
| 520 | 2 | 9 | |a Investigation of semiconductor multilayers using x-ray diffraction This work comprehends basic information about the x-ray diffraction method and the semiconductor multilayers characteristics. Further, it involves the procedure of processing the measured intensity of x-ray diffraction in the surroundings of symetric and asymetric high-resolution x-ray diffraction on the semiconductor multilayers. The results of his work are the maps of distribution of the x-ray diffraction intensity in the surroundings of symetric and asymetric x-ray diffraction in the reciprocal space and the detected periodic multilayer parametres. Multilayer was developed in the Villingen laboratory. |9 eng |
| 650 | 0 | 7 | |a difrakce |7 ph119451 |2 czenas |
| 650 | 0 | 7 | |a fyzika tenkých vrstev |7 ph134790 |2 czenas |
| 650 | 0 | 9 | |a diffraction |2 eczenas |
| 650 | 0 | 9 | |a physics of thin layers |2 eczenas |
| 650 | 0 | 9 | |a thin films |2 eczenas |
| 655 | 7 | |a bakalářské práce |7 fd132403 |2 czenas | |
| 658 | |a Fyzika |b Fyzika pro víceoborové studium |c PřF B-FY FV, GEV (FV) |2 CZ-BrMU | ||
| 700 | 1 | |a Meduňa, Mojmír, |d 1974- |7 mub2011623557 |% UČO 7898 |4 ths | |
| 710 | 2 | |a Masarykova univerzita. |b Přírodovědecká fakulta. |b Fyzikální sekce |7 kn20020321517 |4 dgg | |
| 856 | 4 | 1 | |u http://is.muni.cz/th/151313/prif_b/ |
| CAT | |c 20080215 |l MUB01 |h 0450 | ||
| CAT | |a DRIMLOVA |b 02 |c 20080407 |l MUB01 |h 0949 | ||
| CAT | |a NOVAKOVA |b 02 |c 20080407 |l MUB01 |h 1204 | ||
| CAT | |c 20080429 |l MUB01 |h 1814 | ||
| CAT | |c 20080429 |l MUB01 |h 1828 | ||
| CAT | |a BATCH-UPD |b 02 |c 20091102 |l MUB01 |h 0636 | ||
| CAT | |a BATCH-UPD |b 02 |c 20091103 |l MUB01 |h 0142 | ||
| CAT | |c 20091203 |l MUB01 |h 0206 | ||
| CAT | |c 20091203 |l MUB01 |h 1849 | ||
| CAT | |a BATCH-UPD |b 00 |c 20091219 |l MUB01 |h 0749 | ||
| CAT | |c 20100428 |l MUB01 |h 1007 | ||
| CAT | |a BATCH-UPD |b 00 |c 20100501 |l MUB01 |h 1148 | ||
| CAT | |a BATCH-UPD |b 00 |c 20100929 |l MUB01 |h 0327 | ||
| CAT | |a KOZOVA |b 02 |c 20110208 |l MUB01 |h 0823 | ||
| CAT | |c 20110627 |l MUB01 |h 1909 | ||
| CAT | |c 20110627 |l MUB01 |h 2317 | ||
| CAT | |a batch |b 00 |c 20120324 |l MUB01 |h 0111 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20120510 |l MUB01 |h 0732 | ||
| CAT | |c 20120610 |l MUB01 |h 1915 | ||
| CAT | |a HANAV |b 02 |c 20120711 |l MUB01 |h 1423 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20120726 |l MUB01 |h 1015 | ||
| CAT | |a BATCH |b 00 |c 20130303 |l MUB01 |h 0948 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20130730 |l MUB01 |h 0745 | ||
| CAT | |c 20140127 |l MUB01 |h 1842 | ||
| CAT | |c 20150703 |l MUB01 |h 1038 | ||
| CAT | |c 20150901 |l MUB01 |h 1440 | ||
| CAT | |c 20150921 |l MUB01 |h 1401 | ||
| CAT | |a BATCH |b 00 |c 20151225 |l MUB01 |h 2320 | ||
| CAT | |a PTICHAX |b 02 |c 20160915 |l MUB01 |h 2054 | ||
| CAT | |c 20170301 |l MUB01 |h 1213 | ||
| CAT | |c 20170509 |l MUB01 |h 0931 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20180826 |l MUB01 |h 1453 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20180826 |l MUB01 |h 1504 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20190109 |l MUB01 |h 1225 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20190129 |l MUB01 |h 0936 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20190129 |l MUB01 |h 0940 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20190129 |l MUB01 |h 0952 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20190227 |l MUB01 |h 0752 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20201030 |l MUB01 |h 0223 | ||
| CAT | |c 20210614 |l MUB01 |h 0930 | ||
| CAT | |c 20210614 |l MUB01 |h 1919 | ||
| CAT | |a BATCH |b 00 |c 20210724 |l MUB01 |h 1133 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20210819 |l MUB01 |h 1725 | ||
| CAT | |a POSPEL |b 02 |c 20230808 |l MUB01 |h 2127 | ||
| LOW | |a POSLANO DO SKCR |b 2017-05-09 | ||
| 994 | - | 1 | |l MUB01 |l MUB01 |m VYSPR |1 PRIF |a Přírodovědecká fakulta |2 PRFSK |b ÚK sklad |3 K-9627 |5 3145341333 |8 20080407 |f 71 |f Prezenční SKLAD |q 20180420 |r 20080407 |s dar |
| AVA | |a SCI50 |b PRIF |c ÚK sklad |d K-9627 |e available |t K dispozici |f 1 |g 0 |h N |i 0 |j PRFSK | ||