Povrchový plazmon

Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrick...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Kisela, Tomáš, 1984- (Autor práce)
Další autoři: Schmidt, Eduard, 1935-2021 (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2007.
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/
Obálka
LEADER 04614ctm a22009017a 4500
001 MUB01000510454
003 CZ BrMU
005 20111005103854.0
008 070630s2007 xr ||||| |||||||||||cze d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2014-04-16 
035 |a (ISMU-VSKP)130956 
040 |a BOD114  |b cze  |d BOD004 
072 7 |a 537.6/.8  |x Magnetismus. Elektromagnetismus  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 537.87  |2 MRF 
080 |a 539.261  |2 MRF 
080 |a 537.6/.8  |2 MRF 
100 1 |a Kisela, Tomáš,  |d 1984-  |7 mub2011662856  |% UČO 151066  |4 dis 
242 1 0 |a Surface plasmon as a biosensor  |y eng 
245 1 0 |a Povrchový plazmon  |h [rukopis] /  |c Tomáš Kisela. 
246 1 |a Povrchový plasmon jako biodetektor 
260 |c 2007. 
300 |a v, 48 l. +  |e 2 l. (literatura). 
500 |a Vedoucí práce: Eduard Schmidt. 
502 |a Bakalářská práce (Bc.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2007. 
520 2 |a Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrického pole na polohu minima elipsometrického úhlu $\psi$ pro soustavu s Kretschmannovou konfigurací a byla provedena diskuse možností využití napsaného programu pro modelování průběhu indexu lomu v elektrolytu.  |% cze 
520 2 9 |a We wrote computer program which calculates reflectance and ellipsometic angles for stratified structures depending on wavelength of light or angle of incidence. Next refractive indexes and thicknesses of layers can be found from the measured ellipsomeric angles by this program. We proved the existence of effect of electric field on position of minimum of ellipsometric angle $\psi$ in the system with Kretschmann configuration and we discussed usefulness of the written program for simulation of course of the refractive index in electrolyte.  |9 eng 
650 0 7 |a elektromagnetické vlny  |7 ph119882  |2 czenas 
650 0 7 |a tenké vrstvy  |7 ph126536  |2 czenas 
650 0 9 |a electromagnetic waves  |2 eczenas 
650 0 9 |a thin films  |2 eczenas 
655 7 |a bakalářské práce  |7 fd132403  |2 czenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika  |c PřF B-FY FYZ (FYZ)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Schmidt, Eduard,  |d 1935-2021  |7 jk01110985  |% UČO 17  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Katedra fyziky  |7 kn20050428006  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/ 
CAT |c 20070630  |l MUB01  |h 0452 
CAT |c 20071001  |l MUB01  |h 0109 
CAT |c 20071003  |l MUB01  |h 2203 
CAT |a DRIMLOVA  |b 02  |c 20071004  |l MUB01  |h 1003 
CAT |a NOVAKOVA  |b 02  |c 20080218  |l MUB01  |h 1116 
CAT |c 20080429  |l MUB01  |h 1813 
CAT |c 20080429  |l MUB01  |h 1828 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091102  |l MUB01  |h 0608 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091103  |l MUB01  |h 0130 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 0151 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 1835 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20091219  |l MUB01  |h 0739 
CAT |c 20100428  |l MUB01  |h 1002 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100501  |l MUB01  |h 1132 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100929  |l MUB01  |h 0322 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 1904 
CAT |c 20110627  |l MUB01  |h 2313 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20110816  |l MUB01  |h 1559 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20110816  |l MUB01  |h 1603 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111005  |l MUB01  |h 1026 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111005  |l MUB01  |h 1038 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111005  |l MUB01  |h 1041 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111012  |l MUB01  |h 1411 
CAT |a batch  |b 00  |c 20120324  |l MUB01  |h 0102 
CAT |c 20120610  |l MUB01  |h 1858 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20120718  |l MUB01  |h 1422 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20130303  |l MUB01  |h 0906 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20130424  |l MUB01  |h 0752 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20131217  |l MUB01  |h 1537 
CAT |c 20140416  |l MUB01  |h 1201 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20140911  |l MUB01  |h 1544 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1437 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1358 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151225  |l MUB01  |h 2248 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20190407  |l MUB01  |h 0103 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 0925 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1914 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1126 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20211112  |l MUB01  |h 2352 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2014-04-16 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m VYSPR  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRFSK  |b ÚK sklad  |3 K-9610  |5 3145338855  |8 20071004  |f 71  |f Prezenční SKLAD  |q 20180420  |r 20071004  |s dar 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK sklad  |d K-9610  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRFSK