Povrchový plazmon
Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrick...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2007.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad | K-9610 | 3145338855 |