Meranie pnutia v tenkých vrstvách s využitím rentgenovej difrakcie
V tenkej vrstve deponovanej na substrát obecne existuje interné pnutie, ktoré môže vzniknúť z rôznych príčin, buď priamo pri depozícii vrstvy, alebo pri následnom tepelnom spracovaní. Témou práce je rozpracovať metodiku merania pnutia v tenkých vrstvách zo zakrivenia monokryštalického substrátu pri...
Uloženo v:
Hlavní autor: | |
---|---|
Další autoři: | |
Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
Jazyk: | Slovenština |
Vydáno: |
2007.
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/150754/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
---|---|---|---|---|---|---|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad | K-9608 | 3145338852 |