Physical measurement and analysis of thin films /
Uloženo v:
| Další autoři: | , |
|---|---|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
New York :
Plenum Press,
1969.
|
| Edice: | Progress in analytical chemistry ;
vol. 2 |
| Témata: |
| Fyzický popis: | xi, 194 s. |
|---|