Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Váš názor
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Zachovat současné nastavení filtrů
topic_facet:"tenké vrstvy"
topic_facet:"spektroskopická elipsometrie"
author_facet:"Šamořil, Tomáš"
Vyhledávání:
Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,01 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
Srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev
Autor
Šamořil, Tomáš
Vydáno 2006
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Odstranit filtry
Zrušit filtr
Doporučená témata: tenké vrstvy
Zrušit filtr
Doporučená témata: spektroskopická elipsometrie
Zrušit filtr
Autor: Šamořil, Tomáš
Knihovna
Přírodovědecká fakulta
1
Typ dokumentu
VŠ práce nebo rukopis
1
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
1
Šamořil, Tomáš
Jazyk
Čeština
1
Doporučená témata
Fyzika
1
fyzika tenkých vrstev
1
fyzikální měření
1
physical measurements
1
physics of thin layers
1
spectroscopic ellipsometry
1
více ...
spectroscopy
1
spektroskopická elipsometrie
spektroskopie
1
tenké vrstvy
thin films
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Žánr
bachelor's theses
1
bakalářské práce
1
Rok vydání
Od:
do:
×
Načítá se...