Výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Váš názor
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Zachovat současné nastavení filtrů
topic_facet:"spectroscopy"
topic_facet:"thin films"
genre_facet:"bakalářské práce"
Vyhledávání:
Výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,01 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
Srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev
Autor
Šamořil, Tomáš
Vydáno 2006
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
2
Modernizace aparatury pro spektroskopické měření tloušťky vrstev v čistých prostorách /
Autor
Dóczy, Jakub
Vydáno 2016
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Odstranit filtry
Zrušit filtr
Doporučená témata: spectroscopy
Zrušit filtr
Doporučená témata: thin films
Zrušit filtr
Žánr: bakalářské práce
Knihovna
Přírodovědecká fakulta
2
Typ dokumentu
VŠ práce nebo rukopis
2
Autor
Dóczy, Jakub
1
Mikulík, Petr, 1969-
1
Ohlídal, Ivan, 1945-
1
Šamořil, Tomáš
1
Jazyk
Čeština
1
Slovenština
1
Doporučená témata
spectroscopy
spektroskopie
2
tenké vrstvy
2
thin films
Fyzika
1
Fyzikální stavba hmoty. Jaderná fyzika. Molekulární fyzika
1
více ...
fyzika tenkých vrstev
1
fyzikální měření
1
physical measurements
1
physics of thin layers
1
spectroscopic ellipsometry
1
spektroskopická elipsometrie
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Žánr
bachelor's theses
2
bakalářské práce
Rok vydání
Od:
do:
×
Načítá se...