Construction of a far-infrared ellipsometer and an experimental study of optical properties of ferromagnetic cobaltites /

V této dizertacní práci se zabýváme dvema tématy: konstrukcí a vlastnostmi vakuového elipsometru pro vzdálenou infracervenou oblast s promenným úhlem dopadu a feromagnetickými kobaltáty. Nejdríve jsou popsány fyzikální základy, které jsou potrebné pro popis obou témat. Poté je popsána konstrukce eli...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Friš, Pavel (Autor práce)
Další autoři: Dubroka, Adam, 1977- (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Angličtina
Vydáno: 2018
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/jvb5s/
Obálka
Popis
Shrnutí:V této dizertacní práci se zabýváme dvema tématy: konstrukcí a vlastnostmi vakuového elipsometru pro vzdálenou infracervenou oblast s promenným úhlem dopadu a feromagnetickými kobaltáty. Nejdríve jsou popsány fyzikální základy, které jsou potrebné pro popis obou témat. Poté je popsána konstrukce elipsometru a jeho hlavních komponent. Elipsometr je založen na Fourierovském spektrometru, vlastní vakuové komore s pocítacem rízeným theta-2theta goniometrem a bolometrem s uzavreným cyklem helia. Elipsometr pracuje v módu s rotacním analyzátorem v rozsahu 50-680 cm−1. Nalezli jsme a korigovali artefakty, napr. nehomogení svazek spektrometru a konecnou odrazivost zrcadel. Vlastnosti elipsometru byly testovány na krystalu SrTiO3. V oblasti prekryvu se výsledky merení velmi dobre shodují s merením z komercního elipsometru pro strední infracervenou oblast. Elipsometr muže být doplnen heliovým kryostatem s uzavreným cyklem, který umožnuje merit v rozsahu teplot 5-400 K. Tato práce také obsahuje pop
This dissertation thesis addresses two topics: the construction and performance of a vacuum variable-angle far-infrared ellipsometer and the optical properties of ferromagnetic cobaltites. First, the physical background required for both topics is described. Next, we describe the construction of the ellipsometer and its major components. The ellipsometer is based on a Fourier transform spectrometer, an in-house built chamber with a computer controlled theta-2theta goniometer and a closed-cycle bolometer. The ellipsometer operates in the rotating analyzer mode between 50-680 cm−1. We identified and corrected artifacts like the spectrometer beam inhomogeneity, and the finite reflectivity of mirrors. The performance of the ellipsometer was tested on a SrTiO3 crystal and the results agree very well with those obtained on a commercial mid-infrared ellipsometer in the region of overlap. The ellipsometer can be supplemented with a He closed-cycle cryostat that enables measurements between 5-4
Popis jednotky:Vedoucí práce: Adam Dubroka
Vedoucí práce:
Fyzický popis:ix, 99 listů : ilustrace