Nanoscale imaging with atomic force microscopy /
V mnoha oblastech vědy a technologií je velkým trendem dostat se u zkoumaného či vyvíjeného materiálu až k nanometrickému rozlišení, případně až na velikost atomů. Využívání mikroskopie atomárních sil (AFM) pro studium různých druhů vzorků v přírodovědných a technických aplikacích tedy stále rapidně...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
2017
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/211060/prif_d/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Knihovna univerzitního kampusu | KUK - sklad | PřF-K-16231 | 3285016342 |