Elektronové excitace v topologických izolátorech
Táto práca je výsledkom skúmania skupiny 8 vzoriek vrstiev topologických izolátorov Bi₂(Se1-xTex)₃ s hrúbkami medzi 200-600 nm na substráte BaF₂. Molárna koncentrácia Bi₂Te₃ v Bi₂Se₃ pokrývala interval 0-100 %. Meranie reflektivity a elipsometrie v rôznych spektrálnych oboroch bolo použité na modelo...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Slovenština |
| Vydáno: |
2015
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/324150/prif_m/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - F | K-12665 | 3145362694 |