Studium vybraných struktur pomocí mikroskopie atomárních sil
V tejto bakalárskej práci sa venujeme mikroskopii atómových síl (AFM). Zameriavame sa na princípy, funkciu a bežné chyby tejto experimentálnej metódy. Pomocou AFM zisťujeme vplyv výrobných parametrov, akými sú hrúbka a zloženie krycej vrstvy GaAsSb, na veľkosť a tvar kvantových bodiek InAs. Porovnáv...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Slovenština |
| Vydáno: |
2014
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/394373/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční |
Přírodovědecká fakulta | ÚK volný výběr - F | K-F-2014-GONO | 3145361316 |