Strukturní vlastnosti topologických izolantů
V této diplomové práci se zabýváme studiem krystalické struktury epitaxních vrstev topologických izolantů pomocí rentgenové difrakce. Zaměřujeme se zejména na materiály Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternární sloučeniny Bi2(Se,Te)3 s různou koncentrací Se/Te a Bi2Te3 s příměsí Mn. Několika různými technikami...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2013
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/324109/prif_m/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - F | K-12861 | 3145358337 |