Využití mikrokontroleru pro měření fotokatalytických vlastností povrchů
Práce zpracovává problematiku měření účinnosti fotokatalýzy probíhající na speciálně upravených površích. Krom teoretického uvedení a pojednání o současných možnostech využití tohoto děje, zpracovávají další kapitoly stěžejní část práce, a to návrh, vývoj, ladění a testování zařízení určeného k měře...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2013
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/211513/prif_m/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - F | K-12842 | 3145358335 |