Využití mikrokontroleru pro měření fotokatalytických vlastností povrchů - Kratochvíl, Robert (2013)
Práce zpracovává problematiku měření účinnosti fotokatalýzy probíhající na speciálně upravených površích. Krom teoretického uvedení a pojednání o současných možnostech využití tohoto děje, zpracovávají další kapitoly stěžejní část práce, a to návrh, vývoj, ladění a testování zařízení určeného k měření fotokatalytických vlastností povrchů. Podrobně je zpracován návrh, tvorba a výsledné provedení elektroniky, která spolu s mechanickými částmi přístroje slouží k provádění měření. Pro řízení a zpracování signálů byl vytvořen program pro mikrokontroler, jehož jednotlivé části jsou v práci blíže popsány. Součástí práce je rovněž v dnešní době neodmyslitelné využití počítače pomocí speciálního programu pro příjem, zobrazení a uchování naměřených hodnot. Demonstrace možností vyrobeného přístroje proběhla přeměřením vzorků, jejichž povrch byl předem upraven nanesením fotokatalyticky aktivní vrstvy. Výsledky jsou diskutovány na konci práce.