Povrchový plasmon jako biodetektor
Metodou spektroskopické elipsometrie byla studovány soustavy: Si Au vrstva, Si s vrstvou Au a kryolitu. V Kretschmanově uspořádání byly zkoumány soustavy hranol Au vrstva a hranol s vrstvou Au a kryolitu. Pomocí programů byly z naměřených dat počítány optické konstanty zlata a tloušťka zlata a optic...
Uloženo v:
Hlavní autor: | |
---|---|
Další autoři: | |
Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
Jazyk: | Čeština |
Vydáno: |
2011
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/269569/prif_b/ |
Shrnutí: | Metodou spektroskopické elipsometrie byla studovány soustavy: Si Au vrstva, Si s vrstvou Au a kryolitu. V Kretschmanově uspořádání byly zkoumány soustavy hranol Au vrstva a hranol s vrstvou Au a kryolitu. Pomocí programů byly z naměřených dat počítány optické konstanty zlata a tloušťka zlata a optické konstanty a tloušťka kryolitu na zlatě. Na závěr byla diskutována jiná řešení zadaného experimentu, která by vedla k lepším výsledkům. By spectroscopic elipsometry we studied systems: Si - Au, Si with layer of Au and cryolite. In Kretschmann’s configuration we studied prism with gold and prism with gold and cryolite. Optic coefficients and thicknesses of the gold and cryolite layers were calculated from measured data using special programs. In conclusion we discussed using another construction for this experiment that will bring a better result. |
---|---|
Popis jednotky: | Vedoucí práce: Eduard Schmidt |
Fyzický popis: | 38 l. |