Povrchový plasmon jako biodetektor

Metodou spektroskopické elipsometrie byla studovány soustavy: Si Au vrstva, Si s vrstvou Au a kryolitu. V Kretschmanově uspořádání byly zkoumány soustavy hranol Au vrstva a hranol s vrstvou Au a kryolitu. Pomocí programů byly z naměřených dat počítány optické konstanty zlata a tloušťka zlata a optic...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Fialová, Martina (Autor práce)
Další autoři: Schmidt, Eduard, 1935-2021 (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2011
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/269569/prif_b/
Obálka
Popis
Shrnutí:Metodou spektroskopické elipsometrie byla studovány soustavy: Si Au vrstva, Si s vrstvou Au a kryolitu. V Kretschmanově uspořádání byly zkoumány soustavy hranol Au vrstva a hranol s vrstvou Au a kryolitu. Pomocí programů byly z naměřených dat počítány optické konstanty zlata a tloušťka zlata a optické konstanty a tloušťka kryolitu na zlatě. Na závěr byla diskutována jiná řešení zadaného experimentu, která by vedla k lepším výsledkům.
By spectroscopic elipsometry we studied systems: Si - Au, Si with layer of Au and cryolite. In Kretschmann’s configuration we studied prism with gold and prism with gold and cryolite. Optic coefficients and thicknesses of the gold and cryolite layers were calculated from measured data using special programs. In conclusion we discussed using another construction for this experiment that will bring a better result.
Popis jednotky:Vedoucí práce: Eduard Schmidt
Fyzický popis:38 l.