Podobné jednotky

• Charakterizace tenkých vrstev chalkogenidů pomocí optických metod a AFM
  Autor: Omasta, Jaroslav
  Vydáno: (2002)
• Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons /
  Autor: Schubert, Mathias, 1966-
  Vydáno: (2004)
• SPP detektor s organickou vrstvou
  Autor: Fialová, Martina
  Vydáno: (2014)
• Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide /
  Autor: Tompkins, Harland G., 1938-, a další
  Vydáno: (1999)
• Experimentální studium elektronových vlastností manganátů a elektrony stimulované desorpce /
  Autor: Kúkoľová, Anna
  Vydáno: (2017)