RTG reflektometria organických vrstiev
Táto práca sa zaoberá štúdiom tenkých organických vrstiev pomocou RTG reflektometrie a hodnotením možností štruktúrnej charakterizácie vrstiev pomocou tejto metódy. V teoretickej časti popisuje princípy LB - metódy nanášania vrstiev a RTG reflektometrie multivrstiev. Výsledky získané pomocou reflekt...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Slovenština |
| Vydáno: |
2010
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/269488/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - F | K-12601 | 3145348915 |