Popis: X-ray microscopy and x-ray microanalysis :

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Korporativní autor:	X-ray microscopy and x-ray microanalysis Stockholm, Švédsko) (Autor)
Další autoři:	Engström, Arne, 1920-1996 (Editor), Cosslett, V. E. 1908-1990 (Editor), Pattee, H. H. 1926- (Editor)
Typ dokumentu:	Kniha
Jazyk:	Angličtina
Vydáno:	Amsterdam : Elsevier Publishing Company, 1960
Témata:	rentgenová spektroskopie rentgenová strukturní analýza rentgenové záření X-ray spectroscopy X-ray structural analysis X-rays sborníky konferencí proceedings of conferences

Popis
Fyzický popis:	x, 542 s.