X-ray microscopy and x-ray microanalysis : proceedings of the second international symposium (Stockholm, 1960) /
Uloženo v:
| Korporativní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , , |
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
Amsterdam :
Elsevier Publishing Company,
1960
|
| Témata: |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad | I-22303 | 3145125980 |