Určování deformace tenkých vrstev pomocí rtg difrakce
Tato práce se zabývá studiem deformace tenkých vrstev SiGe slitiny vypěstované na křemíkovém substrátu za pomoci metody rentgenové difrakce. Po teoretickém odvození podmínek, při kterých k difrakci na krystalu dochází, následuje popis konkrétního uspořádání, při kterém byl experiment prováděn. Z nam...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2006.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/106575/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad | K-11248 | 3145331334 |