Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Váš názor
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Zachovat současné nastavení filtrů
topic_facet:"ellipsometry"
topic_facet:"tenké vrstvy"
author_facet:"Zajíčková, Lenka, 1971-"
Vyhledávání:
Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,01 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
Depozice a charakterizace tenkých organosilikonových a SiOx vrstev
Autor
Fialová, Monika
Vydáno 2009
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Odstranit filtry
Zrušit filtr
Doporučená témata: ellipsometry
Zrušit filtr
Doporučená témata: tenké vrstvy
Zrušit filtr
Autor: Zajíčková, Lenka, 1971-
Knihovna
Přírodovědecká fakulta
1
Typ dokumentu
VŠ práce nebo rukopis
1
Autor
Fialová, Monika
1
Zajíčková, Lenka, 1971-
Jazyk
Čeština
1
Doporučená témata
Fyzika
1
elipsometrie
1
ellipsometry
tenké vrstvy
thin films
1
Žánr
bakalářské práce
1
Rok vydání
Od:
do:
×
Načítá se...