Optické vlastnosti pevných látek /

Autor Schmidt, Eduard, 1935-2021
Vydáno 1986

Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements /

Autor Schmidt, Eduard, 1935-2021
Vydáno 1969