Secondary ion mass spectrometry : an introduction to principles and practices /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Van der Heide, Paul, 1962- (Autor)
Typ dokumentu: Kniha
Jazyk:Angličtina
Vydáno: Hoboken, New Jersey : Wiley, [2014]
Témata:
On-line přístup:Elektronická verze přístupná pouze pro studenty a pracovníky MU
Příbuzné jednotky:Tištěná verze:: Secondary ion mass spectrometry.
LEADER 03668cam a22005297i 4500
001 MUB03000004841
003 CZ BrMU
005 20230616090659.0
008 180803t20142014xxu|||||o|||||||||||eng d
STA |a EIZ  |b 333  |c EBSCO trvale nakupy  |d 2018-07-31 
010 |a 2014017866 
020 |a 9781118916773  |q (epub) 
020 |a 9781118916780 
035 |a (OCoLC)ocn879329842 
035 |a (OCoLC)879329842  |z (OCoLC)891400216  |z (OCoLC)961536162  |z (OCoLC)962611421 
040 |a DLC  |b cze  |e rda  |c DLC  |d YDX  |d N$T  |d YDXCP  |d EBLCP  |d IDEBK  |d OCLCF  |d DG1  |d RECBK  |d E7B  |d DEBSZ  |d UWO  |d DG1  |d COCUF  |d S4S  |d OTZ  |d OCLCQ  |d MOR  |d LIP  |d PIFAG  |d ZCU  |d MERUC  |d OCLCQ  |d K6U  |d U3W  |d BUF  |d OCLCQ  |d D6H  |d OCLCQ  |d STF  |d BOD034 
072 7 |a 543  |x Analytická chemie  |2 Konspekt  |9 10 
080 |a 543.51  |2 MRF 
080 |a 54-128  |2 MRF 
100 1 |a Van der Heide, Paul,  |d 1962-  |4 aut 
245 1 0 |a Secondary ion mass spectrometry :  |b an introduction to principles and practices /  |c Paul van der Heide 
264 1 |a Hoboken, New Jersey :  |b Wiley,  |c [2014] 
264 4 |c ©2014 
300 |a 1 online zdroj (xvii, 365 stran) :  |b ilustrace 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a počítač  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online zdroj  |b cr  |2 rdacarrier 
505 0 |a Chapter 1. Introduction: 1.1 Matter and the Mass Spectrometer ; 1.2 Secondary Ion Mass Spectrometry ; 1.3 Summary -- Chapter 2. Properties of atoms, ions, molecules and solids: 2.1 The Atom ; 2.2 Electronic structure of atoms and ions -- Chapter 3. Current understanding of sputtering and ion formation: 3.1 The fundamentals of SIMS ; 3.2 Sputtering ; 3.3 Ionization/neutralization ; 3.4 Summary -- Chapter 4. Instrumentation: 4.1 The science of measurement ; 4.2 Hardware -- Chapter 5. Data collection: 5.1 The art of measurement ; 5.2 Sample preparation and handling ; 5.3 Data collection ; 5.4 Data conversion -- Appendix i) Periodic table of the elements ; ii) Isotope masses, natural isotope abundances, atomic weights and mass densities of the elements ; iii) 1st and 2nd Ionization potentials and electron affinities of the elements ; iv) Work-functions of elemental solids ; v) SIMS detection limits of selected elements ; vi) Charged particle beam transport ; vii) Statistical properties ; viii) SIMS instrument designs ; ix) Additional SIMS methods of interest ; x) Additional spectrometric/spectroscopic techniques ; xi) Additional microscopic techniques ; xii) Diffraction / reflection techniques -- Technique acronym list -- Abbreviations commonly used in SIMS. 
533 |a Elektronická reprodukce.  |n Přístup pouze pro oprávněné uživatele 
650 0 7 |a hmotnostní spektrometrie  |7 ph120763  |2 czenas 
650 0 7 |a ionty  |7 ph561151  |2 czenas 
650 0 9 |a mass spectroscopy  |2 eczenas 
650 0 9 |a ions  |2 eczenas 
655 7 |a e-knihy online  |2 CZ-BrMU 
655 9 |a e-books online  |2 eCZ-BrMU 
776 0 8 |i Tištěná verze:  |t Secondary ion mass spectrometry.  |z 978-1-118-48048-9 
856 4 1 |z Elektronická verze přístupná pouze pro studenty a pracovníky MU  |u https://ezproxy.muni.cz/login?url=https://search.ebscohost.com/login.aspx?authtype=ip&custid=s8431878&lang=cs&profile=eds&direct=true&db=nlebk&AN=834736 
CAT |c 20180803  |l MUB03  |h 1520 
CAT |c 20190222  |l MUB03  |h 1623 
CAT |c 20190222  |l MUB03  |h 1659 
CAT |c 20210421  |l MUB03  |h 2124 
CAT |c 20210421  |l MUB03  |h 2208 
CAT |a FIALOVA  |b 02  |c 20230616  |l MUB03  |h 0906 
995 |a eBook 
994 - 1 |l MUB03  |l MUB03  |m EBOOK  |1 KUK  |a Knihovna univ. kampusu  |2 EBKUK  |b e-knihy (trvalý nákup)  |5 3284L00119  |8 20180801  |f 83  |f Dálkově přístupná  |s kup 
AVA |a MED50  |b KUK  |c e-knihy (trvalý nákup)  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j EBKUK