Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons /
Uloženo v:
Hlavní autor: | |
---|---|
Typ dokumentu: | Kniha |
Jazyk: | Angličtina |
Vydáno: |
Berlin ; Heidelberg :
Springer,
[2004]
|
Vydání: | 1st edition |
Edice: | Springer tracts in modern physics,
volume 209 |
Témata: |
Fyzický popis: | xi, 193 stran |
---|---|
Bibliografie: | Obsahuje bibliografie a rejstřík |
ISBN: | 978-3-642-06228-5 |