Rastrovací elektronová mikroskopie za vysokých teplot
V této diplomové práci se věnuji problematice elektronové mikroskopie za vysokých teplot. Používám při tom skenovací elektronové mikroskopy firmy FEI, jejichž vyhřívací stolky umí in-situ zahřívat preparáty až do teploty 1400 °C a přitom jej pozorovat v režimu nízkého vakua. V práci popisuji využití...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2014
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/356624/prif_m/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dostupné Prezenční |
Přírodovědecká fakulta | ÚK volný výběr - F | K-F-2014-STÁR | 3145361205 |