Reflexní spektroskopie struktur SOI
Cílem této bakalářské práce je studium a charakterizace relevantních parametrů SOI waferů užitím reflexní spektroskopie v infračerveném spektrálním oboru. Měření v NIR-VIS-UV spektrální oblasti budou prováděna na vláknových spektrometrech a měření v MIR spektrální oblasti na infračerveném fourierovs...
Uloženo v:
Hlavní autor: | |
---|---|
Další autoři: | |
Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
Jazyk: | Čeština |
Vydáno: |
2011
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/324167/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
---|---|---|---|---|---|---|
Dostupné Prezenční SKLAD |
Přírodovědecká fakulta | ÚK sklad - F | K-12687 | 3145352478 |