Semiconductor material and device characterization /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
Hoboken, N.J. :
Wiley,
c2006.
|
| Vydání: | 3rd ed. |
| Témata: |
| Fyzický popis: | xv, 779 s. |
|---|---|
| Bibliografie: | Obsahuje bibliografie a rejstřík. |
| ISBN: | 0-471-73906-5 9780471739067 |