Rtg. difrakce stojaté vlny na polykrystalických multivrstvách v grazing-incidence geometrii
V této disertační práci prezentujeme novou metodu, která využívá rtg. stojatou vlnu v grazing-incidence geometrii, ve které úhel dopadu i výstupu jsou blízké kritickému úhlu totálního odrazu. Pokud je úhel dopadu primárního záření na periodickou multivrstvu blízký "Braggovským" maximům na...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
2009.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/42027/prif_d/ |
| Shrnutí: | V této disertační práci prezentujeme novou metodu, která využívá rtg. stojatou vlnu v grazing-incidence geometrii, ve které úhel dopadu i výstupu jsou blízké kritickému úhlu totálního odrazu. Pokud je úhel dopadu primárního záření na periodickou multivrstvu blízký "Braggovským" maximům na reflexní křivce, vznikne interferencí odražených a prošlých vln stojatá vlna v objemu multivrstvy, perioda této vlny je srovnatelná s periodou multivrstvy. Jestliže multivrstva obsahuje polykrystalická zrna (krystality), pak intenzita difrakce na těchto krystalitech závisí na vzájemné poloze krystalitů a kmiten stojaté vlny. Také vlna difraktovaná na krystalitech se odráží na rozhraních multivrstvy, což opět vede ke vzniku stojaté vlny. Polohu extrémů stojaté vlny lze posouvat změnou úhlu dopadu nebo výstupu, takže z měřené závislosti difraktované intenzity na těchto úhlech je možné určit polohu difraktujících krystalitů. Navíc měřením závislosti difraktované intenzity na difrakčním úhlu pro různé úhl. In this dissertation we present a new method, which uses the concept of x-ray standing wave in the grazing-incidence geometry, in which both the incidence and exit angles are close to the critical angle of total external reflection. If the angle of incidence of the primary x-ray wave onto a periodic multilayer is close to a "Bragg-like" maximum on the reflectivity curve, the interference of the transmitted and reflected waves creates a standing wave pattern in the multilayer volume, the period of which equals the multilayer period. If the multilayer contains crystalline grains (crystallites), the intensity of diffraction from these crystallites depends on the mutual position of the crystallites and the antinodes of the standing wave. Similarly, the wave diffracted by the crystallites is reflected from the multilayer interfaces, which results in a standing wave pattern as well. The standing wave pattern is shifted by changing of the incidence and exit angles so that from the measured de. |
|---|---|
| Popis jednotky: | Vedoucí práce: Václav Holý. |
| Fyzický popis: | 115 l. |