Přeskočit na obsah
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Filtr e-prezenčka
Napěťová závislost kapacity sy...
Popis
Citace.com
×
Citace.com
Poslat emailem
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Exportovat do MARC
Exportovat do MARCXML
Exportovat do RDF
Exportovat do BibTeX
Exportovat do RIS
Do oblíbených
Napěťová závislost kapacity systému Al-Al2O3-Al
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor:
Schauer, Petr, 1948-
(Autor práce)
Další autoři:
Baláš, Vratislav
(Vedoucí práce)
,
Sodomka, Ladislav, 1939-
(Vedoucí práce)
Typ dokumentu:
VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:
Čeština
Vydáno:
1972
Témata:
fyzika tenkých vrstev
physics of thin layers
thin films
diplomové práce
master's theses
Jednotky
Popis
MARC21
Popis
Popis jednotky:
Vedoucí práce: V. Baláš a L. Sodomka.
Fyzický popis:
73 l., [17] l. příl.
Podobné jednotky
Frekvenční závislost kapacity systému MIM
Autor: Blata, František
Vydáno: (1973)
TATF' 96 : proceedings : 5th International Symposium on Trends and New Applications in thin films, , Hard coatings, Colmar, France, April 1-3, 1996 /
Vydáno: (1996)
Physics of thin films /
Autor: Eckertová, Ludmila, 1924-2009
Vydáno: (1986)
Physics of thin films : advances in research and development.
Vydáno: (1967)
Thin film phenomena /
Autor: Chopra, Kasturi L., 1933-2021
Vydáno: (1969)
×
Načítá se...