Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, proceedings /
Uloženo v:
| Korporace: | , |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
New York :
Springer,
2006.
|
| Vydání: | 1st ed. |
| Edice: | Lecture notes in computer science ;
4109 |
| Témata: |
| Fyzický popis: | xxi, 939 s. |
|---|---|
| ISBN: | 3-540-37236-9 |