Characterization of randomly rough surfaces in nanometric scale using methods of modern metrology
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
2003
|
| Témata: |
| Popis jednotky: | Vedoucí práce: Ivan Ohlídal. |
|---|---|
| Fyzický popis: | 1 CD-ROM. |