Přeskočit na obsah
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Filtr e-prezenčka
Sledování teplotních změn v te...
Popis
Citace.com
×
Citace.com
Poslat emailem
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Exportovat do MARC
Exportovat do MARCXML
Exportovat do RDF
Exportovat do BibTeX
Exportovat do RIS
Do oblíbených
Sledování teplotních změn v tenkých vrstvách metodami rentgenové difrakce a reflexe
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor:
Bochníček, Zdeněk, 1962-
(Autor práce)
Typ dokumentu:
VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:
Čeština
Vydáno:
2003.
Témata:
difrakce
rentgenové záření
tenké vrstvy
diffraction
thin films
X-rays
habilitační práce
habilitation theses
Jednotky
Popis
MARC21
Popis
Fyzický popis:
81 l.
Podobné jednotky
Určování deformace tenkých vrstev pomocí rtg difrakce
Autor: Valeš, Václav, 1936-
Vydáno: (2006)
Rtg difrakce na monokrystalických vrstvách GaAs/InAs
Autor: Hovorka, Miloš
Vydáno: (2002)
Rtg. difrakční analýza kovových vrstev na Si
Autor: Krčmář, Jan
Vydáno: (2004)
X-ray diffraction from semiconductor quantum dots
Autor: Čechal, Tomáš
Vydáno: (2009)
Studium polovodičových multivrstvev prostřednictvím rtg difrakce
Autor: Halló, Miroslav
Vydáno: (2008)
×
Načítá se...