Přeskočit na obsah
  • Váš účet
  • Odhlásit
  • Přihlášení
  • English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich stránkách.
  • Pokročilé vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání
  • Filtr e-prezenčka
  • Sensitivity of optical measure...
  • Popis
  • Citace.com
  • Citace.com

  • Poslat emailem
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
    • Exportovat do MARC
    • Exportovat do MARCXML
    • Exportovat do RDF
    • Exportovat do BibTeX
    • Exportovat do RIS
  • Do oblíbených

Sensitivity of optical measurements on planar stratified structures and reduction of experimental data /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Humlíček, Josef, 1947- (Autor)
Typ dokumentu: Kniha
Jazyk:Angličtina
Vydáno: Brno : Masarykova univerzita, c1992.
Vydání:Vyd. 1.
Edice:Folia Facultatis scientiarum naturalium Universitatis Masarykianae Brunensis.
Physica ; 50.
Témata:
měření
nejistota měření
optika
measurement uncertainty
measurement
optics
sborníky
collections of works
Obálka Obsah Přejít na ObalkyKnih.cz
  • Jednotky
  • Popis
  • MARC21
Popis
Fyzický popis:99 s. : il.
ISBN:80-210-0423-1

Podobné jednotky

  • Stanovení nejistoty analytického měření : pokyn EURACHEM/CITAC /
    Vydáno: (2014)
  • Stanovení nejistoty analytického měření : pokyn EURACHEM-CITAC /
    Vydáno: (2001)
  • Odhad nejistot chemických a mikrobiologických měření : metodická příručka /
    Autor: Doškářová, Šárka
    Vydáno: (2003)
  • Použití informací o nejistotě k posuzování shody : pokyn EURACHEM-CITAC ; Nejistota měření vyplývající z odběru vzorků : příručka EURACHEM-CITAC-EUROLAB-Nordtest-UK RSC Analytical Methods Committee /
    Vydáno: (2008)
  • Optical measurements of oxide films on silicon /
    Autor: Sládková, Jarmila
    Vydáno: (1963)

Možnosti vyhledávání

  • Historie vyhledávání
  • Abecední procházení
  • Nové tituly v katalogu

Objevte více

  • Portál elektronických zdrojů MU
  • Discovery.muni
  • Databáze závěrečných prací (IS MU)
  • Knihovny MU

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
  • Registrace do knihovny
  • Návod k E-prezenčce
  • Ochrana osobních údajů
© 2019 Masarykova univerzita
kic_admins zavinac | at ics tecka | dot muni tecka | dot cz | Cookies
Logo Ústavu výpočetní techniky
Načítá se...